SRM 1766 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品

產(chǎn)品介紹

NIST SRM 1766 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品提供的認(rèn)證值主要用于驗(yàn)證高純鐵、低合金鋼和類(lèi)似鐵合金元素含量的化學(xué)和儀器分析方法。它們可用于驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部參考的價(jià)值分配材料。SRM 1766 的一個(gè)單元由一個(gè)直徑約 34 毫米、厚 19 毫米的圓盤(pán)組成。

 認(rèn)證值： 美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院 (NIST) 認(rèn)證值是當(dāng)前對(duì)真實(shí)值的最佳估計(jì)值 [1]。 SRM 1766 的認(rèn)證值如下表所示，在計(jì)量上可追溯到國(guó)際單位制 (SI) 導(dǎo)出的質(zhì)量分?jǐn)?shù)單位，以百分比表示。

存儲(chǔ)：SRM 1766 磁盤(pán)應(yīng)存儲(chǔ)在其原始容器中室溫下陰涼干燥的地方。 

 用途： 測(cè)試面是標(biāo)注面的反面，包含SRM號(hào)。該裝置的整個(gè)厚度都經(jīng)過(guò)認(rèn)證。但是，警告用戶(hù)在使用 X 射線(xiàn)熒光光譜法時(shí)不要測(cè)量厚度小于 2 毫米的圓盤(pán)。每個(gè)封裝的磁盤(pán)都是通過(guò)使用銑床完成測(cè)試表面來(lái)準(zhǔn)備的。用戶(hù)必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。用戶(hù)在重修磁盤(pán)或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心謹(jǐn)慎，因?yàn)檫@些過(guò)程可能會(huì)污染表面。 NIST 發(fā)現(xiàn)在表面磨削過(guò)程中必須經(jīng)常更換砂紙。用過(guò)的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。

 制備： NIST SRM 1766 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品的材料在 Carpenter Technology Corp. (Reading, PA) 進(jìn)行真空感應(yīng)熔化，然后進(jìn)行真空電弧重熔。材料驗(yàn)收后將鑄錠加工成棒狀。

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